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PHL 應(yīng)力雙折射檢測儀PA系列由日本Photonic lattice公司開發(fā)，具備高精度和快速測量的特點(diǎn)。 該設(shè)備采用光子晶體偏光陣列片和獨(dú)特的雙折射算法，能在幾秒內(nèi)完成從毫米級(jí)到接近500毫米樣品的雙折射測量，測量范圍為0-130nm。 其特點(diǎn)包括操作簡便、視野廣闊、無需旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片，并配備高像素偏振相機(jī)。 適用于光學(xué)鏡片、智能手機(jī)玻璃基板及藍(lán)寶石等材料的測量，支持多種分析功能和外部控制

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機(jī)鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會(huì)造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機(jī)所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產(chǎn)過程中關(guān)鍵質(zhì)控的，WPA-200-MT正符合這樣的需求，并能高速完成各項(xiàng)測量。

應(yīng)力雙折射檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，高精度的測量技術(shù)，高速而又的測量3D玻璃，晶體等產(chǎn)品的雙折射效應(yīng)，得出的相位差數(shù)值，從而量化出產(chǎn)品應(yīng)力數(shù)值，在測量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。廣泛應(yīng)用于手機(jī)3D玻璃的研發(fā)，生產(chǎn)，質(zhì)量測試中。

WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶體技術(shù)，開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備，可測量相位差（光程差）高達(dá)3500nm，Photonic lattice應(yīng)力雙折射解決方案WPA-200L適合注塑成型的透光器件的應(yīng)力雙折射檢測，數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。

WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶體技術(shù)，開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備，可測量相位差（光程差）高達(dá)3500nm，Photonic lattice雙折射分析儀WPA-200L適合注塑成型的透光器件的應(yīng)力雙折射檢測，數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。

光學(xué)應(yīng)力分析儀WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。