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PRODUCT CENTER

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光學應力分析儀
產品簡介:

光學應力分析儀WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應力評估很難實現,為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

產品型號:WPA-NIR

更新時間:2026-01-16

廠商性質:代理商

訪問量:305

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010-69798892

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產品介紹
品牌Photonic Lattice價格區(qū)間面議
產地類別進口應用領域電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

光學應力分析儀主要特點:

硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應力評估很難實現,為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

  • 紅外波長的雙折射/相位差面分布測量;

  • 硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估;

  • 小型、簡単操作、高速測量;

  • WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布;

  • 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View;

  • 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內的平均值等的定量數據;

  • 可搭配流水線對應的『外部控制選配』,也可應用于量產現場。

光學應力分析儀主要功能:

  • NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息;

  • 測量數據的保存/讀取簡單快捷;

  • 全部的測量結果都可以做保存/讀取,易于跟過去的測量結果做比較等;

  • 豐富的圖形創(chuàng)建功能;

  • 可以自由制作線圖形和直方圖;

  • 測量結果可以在一個圖形上做比較,也可以用CSV格式輸出。

主要參數:

光學應力分析儀

實際測量對比:
光學應力分析儀光學應力分析儀




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