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雙折射測量儀
應(yīng)力雙折射測量儀WPA系列
產(chǎn)品分類
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,的測量技術(shù)使其成為的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器,適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產(chǎn)過程中關(guān)鍵質(zhì)控的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項測量。
光學(xué)應(yīng)力分析儀WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。
雙折射應(yīng)力測試設(shè)備WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,的測量技術(shù)使其成為的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器,適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L系列是Photonic lattice公司以其優(yōu)良世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品,高精度的測量技術(shù),高速而又精q的測量能力使其成為精確的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布??蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器,Z適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
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