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應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達(dá)3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，的測量技術(shù)使其成為的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機(jī)器，適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度顯微雙折射與應(yīng)力測量系統(tǒng)，可搭載商用顯微鏡，實(shí)現(xiàn) 0–130 nm 相位差、光軸方位的全場高速定量檢測，精度達(dá) 0.1 nm 級(jí)，Photonic lattice顯微鏡型應(yīng)力雙折射儀支持將測量結(jié)果換算為應(yīng)力值，廣泛用于光學(xué)玻璃、TGV孔的內(nèi)應(yīng)力與雙折射分布分析，兼具高精度、面成像與易用性，是精密光學(xué)質(zhì)檢的核心設(shè)備。

紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。

玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)PA系列分布測量儀:理想的光學(xué)玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內(nèi)外溫度不同，或者退火爐內(nèi)各處溫度不等都會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力。光學(xué)玻璃內(nèi)應(yīng)力的存在，破壞了各向同性，產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象，即內(nèi)部應(yīng)力的分布現(xiàn)象，現(xiàn)在利用測量雙折射現(xiàn)象來改進(jìn)光學(xué)玻璃的生產(chǎn)工藝，以及用來對(duì)光學(xué)玻璃的質(zhì)量控制，成為世界光學(xué)玻璃廠商的手段。

PI/WPI偏振相機(jī)能夠獲得實(shí)時(shí)的偏振信息，作為一個(gè)正常的圖像，并在高分辨率。 它們被應(yīng)用在許多領(lǐng)域，包括利用偏振特征識(shí)別暗物體，激光光束的實(shí)時(shí)偏振監(jiān)測等。 除了PI功能可以記錄線偏振度（DOLP）和主軸方向角，WPI還可以全面記錄Stokes參數(shù)和偏振度（DOP），這在部分偏振情況下是必要的。

玻璃內(nèi)應(yīng)力測量儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，高精度同步協(xié)調(diào)的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。