PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度顯微雙折射與應(yīng)力測量系統(tǒng)，可搭載商用顯微鏡，實(shí)現(xiàn) 0–130 nm 相位差、光軸方位的全場高速定量檢測，精度達(dá) 0.1 nm 級，Photonic lattice顯微鏡型應(yīng)力雙折射儀支持將測量結(jié)果換算為應(yīng)力值，廣泛用于光學(xué)玻璃、TGV孔的內(nèi)應(yīng)力與雙折射分布分析，兼具高精度、面成像與易用性，是精密光學(xué)質(zhì)檢的核心設(shè)備。

產(chǎn)品型號：PA-MICRO

更新時(shí)間：2026-04-01

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品介紹

PA-MICRO

Photonic lattice顯微鏡型應(yīng)力雙折射儀

該型號適用于 0 到 130nm 的低雙折射產(chǎn)品檢測，可高速測量 500 萬像素的高分辨率雙折射/相位差分布，它是一種能夠在顯微鏡視場中測量雙折射的系統(tǒng)，隨附的顯微鏡可選擇奧林巴斯或尼康。

應(yīng)用：

技術(shù)參數(shù)：

項(xiàng)次	項(xiàng)目	具體參數(shù)
1	輸出項(xiàng)目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量范圍	0-130nm

4	測量最小分辨率	0.001nm

5	測量重復(fù)精度	0.1nm

6	視野尺寸	142x170um到3.5x4.2mm (×2，×5，×10，×20，×50)

7	選配鏡頭視野	無

8	選配功能	實(shí)時(shí)解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實(shí)現(xiàn)外部控制