PHL 應(yīng)力雙折射檢測(cè)儀PA系列由日本Photonic lattice公司開(kāi)發(fā)，具備高精度和快速測(cè)量的特點(diǎn)。該設(shè)備采用光子晶體偏光陣列片和獨(dú)特的雙折射算法，能在幾秒內(nèi)完成從毫米級(jí)到接近500毫米樣品的雙折射測(cè)量，測(cè)量范圍為0-130nm。其特點(diǎn)包括操作簡(jiǎn)便、視野廣闊、無(wú)需旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片，并配備高像素偏振相機(jī)。適用于光學(xué)鏡片、智能手機(jī)玻璃基板及藍(lán)寶石等材料的測(cè)量，支持多種分析功能和外部控制

產(chǎn)品型號(hào)：PA-300

更新時(shí)間：2026-01-16

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：413

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產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

雙折射測(cè)量?jī)x

應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xPA系列應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xWPA系列顯微型雙折射測(cè)量?jī)x 晶圓應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x 在線型應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x 偏振相機(jī) 膜厚測(cè)量?jī)x

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Photonic lattice應(yīng)力雙折射解決方案

產(chǎn)品介紹

品牌	Photonic Lattice	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天

PHL 應(yīng)力雙折射檢測(cè)儀PA系列

PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術(shù)，針對(duì)玻璃、SIC晶圓、藍(lán)寶石等低應(yīng)力雙折射的測(cè)量系統(tǒng)，數(shù)秒給出被測(cè)產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

PHL 應(yīng)力雙折射檢測(cè)儀PA系列針對(duì)高雙折射的透明材料開(kāi)發(fā)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備，通過(guò)核心的偏光圖像傳感器，可以快速準(zhǔn)確的測(cè)量透明材料的應(yīng)力雙折射，針對(duì)不同產(chǎn)品尺寸，均有可匹配的型號(hào)可供選擇。

主要特點(diǎn):

可快速自動(dòng)測(cè)量應(yīng)力雙折射的大小、方向和分布

面測(cè)量、可一次測(cè)量視野范圍內(nèi)樣品的全部數(shù)據(jù)

具備點(diǎn)、線、面、3D的分析功能

500萬(wàn)像素，高分辨能力

可輸出光程差（nm）、偏振角度（°）、應(yīng)力（Mpa）、應(yīng)力雙折射（nm/mm）

技術(shù)參數(shù)：

PHL 應(yīng)力雙折射檢測(cè)儀PA系列