內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，高精度同步協(xié)調(diào)的雙折射算法設(shè)計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2026-01-16

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：5158

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

雙折射測量儀

應(yīng)力雙折射測量儀PA系列應(yīng)力雙折射測量儀WPA系列顯微型雙折射測量儀晶圓應(yīng)力雙折射測量儀在線型應(yīng)力雙折射測量儀偏振相機膜厚測量儀

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Photonic lattice應(yīng)力雙折射解決方案

產(chǎn)品介紹

品牌	Photonic Lattice	測量精度	0.1nm%
測量范圍	0-130nm	價格區(qū)間	面議
數(shù)顯功能	無	溫控功能	無
產(chǎn)品種類	在線	產(chǎn)地類別	進口
應(yīng)用領(lǐng)域	化工,汽車及零部件,電氣	測量小分辨率	0.001nm
測量重復(fù)精度	0.1nm

內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL主要特點：

操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。
具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機構(gòu)。
高達(dá)2056x2464像素的偏振相機。

內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL應(yīng)用領(lǐng)域：

光學(xué)鏡片
智能手機玻璃基板
A4紙尺寸的樣品

技術(shù)參數(shù)：

項次	項目	具體參數(shù)
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量范圍	0-130nm

4	測量小分辨率	0.001nm

5	測量重復(fù)精度	<0.1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	40x48mm到240x320mm（標(biāo)準(zhǔn)）

7	選配鏡頭視野	不適用

8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制

測量案例：
內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL

內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL

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