雙折射儀能精確測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別，是光學(xué)儀器制造業(yè)*的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具，廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。

　　儀器是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標(biāo)的檢驗(yàn)方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時(shí)，本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

　　一般的光學(xué)材料都是均勻的各向同性的，也就是說無論光從哪個(gè)方向穿過材料，其折射率都保持一致。對(duì)于單軸材料來說，例如方解石 ，其晶軸定義了材料的對(duì)稱軸。這類材料對(duì)光線的偏折能力隨入射光的偏振態(tài)及入射光與晶軸的夾角不同而不同。因此對(duì)于任意一束光，兩個(gè)正交的偏振態(tài)下可能存在不同的折射角。這種現(xiàn)象稱為光的雙折射。

　　雙折射儀系統(tǒng)特點(diǎn)：

　　1、操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進(jìn)行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布。

　　2、2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的*分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

　　3、大相位差測試能力：通過對(duì)三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。